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2008年8月31日 (日)

T2*とT2

90°励起パルス直後からMxyは減衰し自由減衰信号(Free induction decay; FID)が生成される(図4)。FID信号はT2*減衰を示す(e-t/T2*)。T2*減衰は外部磁場の不均一性による。GRE法T2*強調画像は磁化率変化に鋭敏である。

一方SE法では、TE1 /2時間後に180°収束パルス(refocusing pulse)をかけると、分散したスピンの位相が再収束し、そのTE1 /2時間後(90 °励起パルスからTE1後)に第1エコー(MR信号)が得られる。マルチプルエコー法ではさらにある時間後(TE2 /2)に180°反転パルスを照射すると、第2の180°パルスからTE2 後、90°パルスからはTE1 + TE2 ( = 2nd TE)後に位相が再収束し第2エコーが得られる。

T2減衰曲線はスピン-スピン相互作用による位相分散による信号減衰である(e-t/T2)。T2*減衰はT2減衰よりも速く進行する。180°収束パルスによって、スピン外部の磁場環境(局所磁場磁場の不均一)による位相分散は(T2*減衰)は補正できるが、T2減衰、スピン-スピン相互作用(隣接するスピン間の微小な局所磁場)は180°収束パルスでも補正できない。

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